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常翔学園 大阪工業大学図書館

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シリコンの物性と評価法

小間篤 [ほか] 共著. -- 丸善, 1987. -- (電子材料シリーズ). <BB99668806>
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小間篤 [ほか] 共著. -- 丸善, 1987. -- (電子材料シリーズ). <BB99668806>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 工大宮 工大6F一般図書 棚22 549.8||S 18710432 帯出可 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 工大宮
配置場所 工大6F一般図書 棚22
請求記号 549.8||S
資料ID 18710432
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 シリコンの物性と評価法 / 小間篤 [ほか] 共著
シリコン ノ ブッセイ ト ヒョウカホウ
出版・頒布事項 東京 : 丸善 , 1987.7
形態事項 x, 251p ; 22cm
巻号情報
ISBN 4621031856
書誌構造リンク 電子材料シリーズ||デンシ ザイリョウ シリーズ <BB00118493>//a
注記 文献: 章末
注記 参考書: p[243]〜244
注記 その他の共著者: 白木靖寛, 齋木幸一郎, 飯田厚夫
学情ID BN01165985
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 小間, 篤||コマ, アツシ <AU10032922>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 科学技術 NDLC:ND371
件名標目等 シリコン||シリコン
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