常翔学園 大阪工業大学図書館

Identification of defects in semiconductors

volume editor Michael Stavola ; [A], [B]. -- Academic Press, 1998. -- (Semiconductors and semimetals ; vol. 51A-B). <BB99564636>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 [A] 工大宮 研究室 549.808||S||51A 19803872 帯出可 研究室 0件
0002 [B] 工大宮 研究室 549.808||S||51B 19806245 帯出可 研究室 0件
No. 0001
巻号 [A]
所蔵館 工大宮
配置場所 研究室
請求記号 549.808||S||51A
資料ID 19803872
禁帯出区分 帯出可
状態 研究室
返却予定日
予約 0件
No. 0002
巻号 [B]
所蔵館 工大宮
配置場所 研究室
請求記号 549.808||S||51B
資料ID 19806245
禁帯出区分 帯出可
状態 研究室
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Identification of defects in semiconductors / volume editor Michael Stavola
出版・頒布事項 San Diego : Academic Press , c1998-
形態事項 2 v. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等 [A]
ISBN 0127521593
巻号情報
巻次等 [B]
ISBN 0127521658
書誌構造リンク Semiconductors and semimetals <BB99378905> vol. 51A-B//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA36183890
本文言語コード 英語
著者標目リンク Stavola, Michael <AU50066288>