常翔学園 大阪工業大学図書館

McGraw-Hill electronic testing handbook : procedures and techniques

John D. Lenk ; :hard. -- McGraw-Hill, 1994. <TY00009042>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 :hard 工枚方 工枚保存書庫 R549||L 89612962 禁帯出 0件
No. 0001
巻号 :hard
所蔵館 工枚方
配置場所 工枚保存書庫
請求記号 R549||L
資料ID 89612962
禁帯出区分 禁帯出
状態
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 McGraw-Hill electronic testing handbook : procedures and techniques / John D. Lenk
出版・頒布事項 New York : McGraw-Hill , c1994
形態事項 xvii, 397 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等 :hard
ISBN 0070376026
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Electronic testing handbook
注記 Includes index
学情ID BA26259373
著者標目リンク *Lenk, John D. <AU10009972>
分類標目 LCC:TK7878.4
分類標目 DC20:621.38/028/7
件名標目等 Electronic instruments -- Handbooks, manuals, etc
件名標目等 Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Handbooks, manuals, etc