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常翔学園 大阪工業大学図書館
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McGraw-Hill electronic testing handbook : procedures and techniques
John D. Lenk ; :hard. -- McGraw-Hill, 1994. <TY00009042>
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50件
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
禁帯出区分
状態
返却予定日
予約
0001
:hard
工枚方
工枚保存書庫
R549||L
89612962
禁帯出
0件
No.
0001
巻号
:hard
所蔵館
工枚方
配置場所
工枚保存書庫
請求記号
R549||L
資料ID
89612962
禁帯出区分
禁帯出
状態
返却予定日
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書誌詳細
標題および責任表示
McGraw-Hill electronic testing handbook : procedures and techniques / John D. Lenk
出版・頒布事項
New York : McGraw-Hill , c1994
形態事項
xvii, 397 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
巻次等
:hard
ISBN
0070376026
その他の標題
異なりアクセスタイトル:Electronic testing handbook
注記
Includes index
学情ID
BA26259373
著者標目リンク
*Lenk, John D. <AU10009972>
分類標目
LCC:TK7878.4
分類標目
DC20:621.38/028/7
件名標目等
Electronic instruments -- Handbooks, manuals, etc
件名標目等
Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Handbooks, manuals, etc
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