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常翔学園 大阪工業大学図書館

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Digital integrated circuit testing from a quality perspective

Eugene R. Hnatek. -- Van Nostrand Reinhold, 1993. <TY00009371>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 工枚方 工枚保存書庫 549.7||H 89613350 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 工枚方
配置場所 工枚保存書庫
請求記号 549.7||H
資料ID 89613350
禁帯出区分
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Digital integrated circuit testing from a quality perspective / Eugene R. Hnatek
出版・頒布事項 New York : Van Nostrand Reinhold , c1993
形態事項 x, 179 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0442006438
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA21928498
著者標目リンク *Hnatek, Eugene R. <AU10002057>
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC20:621.3815/48
件名標目等 Digital integrated circuits -- Testing -- Quality control
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