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常翔学園 大阪工業大学図書館

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Integrated circuit defect-sensitivity : theory and computational models

by José Pineda de Gyvez. -- Kluwer Academic Publishers, 1993. -- (The Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 208 . Microelectronics manufacturing). <TY00014400>
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Integrated circuit defect-sensitivity : theory and computational models

by José Pineda de Gyvez. -- Kluwer Academic Publishers, 1993. -- (The Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 208 . Microelectronics manufacturing). <TY00014400>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 工枚方 工枚保存書庫 549.7||P 89611634 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 工枚方
配置場所 工枚保存書庫
請求記号 549.7||P
資料ID 89611634
禁帯出区分
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Integrated circuit defect-sensitivity : theory and computational models / by José Pineda de Gyvez
出版・頒布事項 Boston : Kluwer Academic Publishers , c1993
形態事項 xxiv, 167 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0792393066
書誌構造リンク The Kluwer international series in engineering and computer science <BB99520048> SECS 208 . Microelectronics manufacturing//aa
注記 Includes bibliographical references (p. 138-146) and index
学情ID BA20492885
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Pineda de Gyvez, José <AU00040858>
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC20:621.3815
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Design and construction -- Data processing
件名標目等 Integrated circuits -- Very large scale integration -- Defects -- Mathematical models
件名標目等 Computer-aided design
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