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常翔学園 大阪工業大学図書館

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Materials reliability issues in microelectronics : symposium held April 30-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A.

editors, James R. Lloyd, Frederick G. Yost, Paul S. Ho. -- Materials Research Society, 1991. -- (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 225). <TY00014428>
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Materials reliability issues in microelectronics : symposium held April 30-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A.

editors, James R. Lloyd, Frederick G. Yost, Paul S. Ho. -- Materials Research Society, 1991. -- (Materials Research Society symposium proceedings ; v. 225). <TY00014428>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 工枚方 工枚保存書庫 549||M 89611597 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 工枚方
配置場所 工枚保存書庫
請求記号 549||M
資料ID 89611597
禁帯出区分
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Materials reliability issues in microelectronics : symposium held April 30-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A. / editors, James R. Lloyd, Frederick G. Yost, Paul S. Ho
出版・頒布事項 Pittsburgh, Pa. : Materials Research Society , c1991
形態事項 xiii, 358 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 1558991190
書誌構造リンク Materials Research Society symposium proceedings <BB99371293> v. 225//a
注記 Proceedings of the First MRS Symposium on Materials Reliability Issues in Microelectronics
注記 Includes bibliogrpahical references and index
学情ID BA14185757
本文言語コード 英語
著者標目リンク Lloyd, J. R. (James R.) <AU00040895>
著者標目リンク Yost, Frederick G. <AU00040894>
著者標目リンク Ho, P. S. <AU00040893>
著者標目リンク Materials Research Society <AU10000742>
著者標目リンク MRS Symposium on Materials Reliability Issues in Microelectronics <AU00040892> (1st : 1991 : Anaheim, Calif.)
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC20:621.381
件名標目等 Microelectronics -- Reliability -- Congresses
件名標目等 Microelectronics -- Materials -- Testing -- Congresses
件名標目等 Electrodiffusion -- Congresses
件名標目等 Microstructure -- Congresses
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