常翔学園 大阪工業大学図書館

Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis

Wayne Nelson. -- Wiley, 1990. -- (Wiley series in probability and mathematical statistics . Applied probability and statistics). <TY00013998>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 工枚方 工枚普通図書 336.059||N 89611020 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 工枚方
配置場所 工枚普通図書
請求記号 336.059||N
資料ID 89611020
禁帯出区分
状態
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis / Wayne Nelson
出版・頒布事項 New York : Wiley , c1990
形態事項 xiv, 601 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0471522775
書誌構造リンク Wiley series in probability and mathematical statistics <BB00044672> . Applied probability and statistics//a
注記 "A Wiley-Interscience publication."
注記 Includes bibliographical references: p. 561-577
学情ID BA10134812
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Nelson, Wayne, 1936- <AU00040320>
分類標目 LCC:QA276
分類標目 DC20:519.5
件名標目等 Failure time data analysis
件名標目等 Reliability (Engineering) -- Statistical methods
件名標目等 Accelerated life testing -- Statistical methods