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常翔学園 大阪工業大学図書館

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Reliability and degradation : semiconductor devices and circuits

edited by M.J. Howes, D.V. Morgan. -- J. Wiley, 1981. -- (The Wiley series in solid state devices and circuits). <BB99287227>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 禁帯出区分 状態 返却予定日 予約
0001 工大宮 工大枚閉架庫 548.08||W 08214279 帯出可 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 工大宮
配置場所 工大枚閉架庫
請求記号 548.08||W
資料ID 08214279
禁帯出区分 帯出可
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Reliability and degradation : semiconductor devices and circuits / edited by M.J. Howes, D.V. Morgan
出版・頒布事項 Chichester ; New York : J. Wiley , c1981
形態事項 xii, 444 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0471280283
書誌構造リンク The Wiley series in solid state devices and circuits <BB99287225>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA03687119
本文言語コード 英語
著者標目リンク Howes, M. J. <>
著者標目リンク Morgan, D. V. <>
分類標目 LCC:TK7871.85
分類標目 DC19:621.3815/2
件名標目等 Semiconductors -- Reliability
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